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先进功能
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先进功能
Sonoscan 研究人员、工程师与应用开发小组密切合作,持续开发更加先进的系统和技术。Sonoscan拥有先进的技术,并享受多项专利。

总之,Sonoscan 的先进技术可以为客户提供更佳的检验结果、更高的检验效率和更深入的分析检测。
我们的技术包括:
SonoSimulator™
革命性的创新软件使具有多层芯片(stack die)及类似复杂结构的电子器件的超声显微检测变得简单。

声阻抗极性探测器 (AIPD)™
提供极其精确的缺陷检验,并可以探测到仅200埃厚度的分层。

数字图像分析器 (DIA)™
采用先进算法,量化接口数据,并帮助建立精确和自动的接受/拒收标准。

虚拟二次扫描模式 (VRM)™
收集并以数字形式储存广泛的声学数据,从而可以执行完整的样品分析,即使在没有可用样品的情况下,也能进行分析。

频域成像 (FDI)™
可以选取任何单个频率或某个范围内的频率,并进行收集和利用,获得成像。FDI可以显示采用传统脉冲回波方法(时域成像)不容易探测到的详细数据。

时域成像 (TDI) ™
表现图像的另外一种采用“时间”作为参考的方法,例如A、B和C扫描成像,这些都以时间为基础。

Waterfall Transducer™
提供快速扫描,而无需浸没,适合生产扫描和对湿度敏感的器件的扫描。

惯性平稳扫描装置
可进行超高速和无振动扫描。

B型扫描定量分析模式 (Q-BAM)
(Q-BAM)™

可以看作是对样品的“虚拟横截面”成像。


专有传感器技术
在使用优化传感器的情况下,能够以超高频提供成像。

同时传输和反射模式 (STaR)
(STaR)™
以较少的扫描次数对元件性能进行有效评估。

TurboSpeed™
在高频率下可提供较快成像速度,在高像素密度下,图像采集速度可增加2.5X。

欢迎访问Sonoscan英文版美国网站以获取更多信息。

Demo System

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